इलेक्ट्रान सम्प्रेषित दूरदर्शी
इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप और एक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप का इमेजिंग सिद्धांत मूल रूप से एक ही है, सिवाय इसके कि पूर्व एक प्रकाश स्रोत के रूप में एक इलेक्ट्रॉन बीम और एक लेंस के रूप में विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र का उपयोग करता है। इसके अलावा, चूंकि इलेक्ट्रॉन बीम की मर्मज्ञ शक्ति बहुत कमजोर है, इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप के लिए इस्तेमाल किया जाने वाला नमूना लगभग 50 एनएम की मोटाई के साथ एक अति-पतली अनुभाग में बनाया जाना चाहिए। इस खंड को एक अल्ट्रामाइक्रोटोम के साथ बनाया जाना चाहिए। इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप में लगभग दस लाख गुना तक का आवर्धन होता है। इसमें पाँच भाग होते हैं: प्रकाश व्यवस्था, इमेजिंग प्रणाली, निर्वात प्रणाली, रिकॉर्डिंग प्रणाली और बिजली आपूर्ति प्रणाली। निर्वात में इलेक्ट्रॉन बंदूकें, संघनक, वस्तुनिष्ठ कक्ष, उद्देश्य, विवर्तनिक दर्पण, मध्यवर्ती दर्पण, प्रक्षेपण दर्पण, स्क्रीन और कैमरे।